日本i-bit射線立體系統(tǒng)X射線觀察裝置

更新日期：2024-05-12

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簡(jiǎn)要描述：

日本i-bit射線立體系統(tǒng)X射線觀察裝置FX-400tRX
概述
■可以獲得2μm的高分辨率和500倍的幾何放大率的清晰X射線圖像。
■通常，使用昂貴的開放式X射線管的樣品可以獲得相同的圖像質(zhì)量。
■我們還可以檢查IC引線鍵合連接和銅線。
　您還可以觀察印刷電路板內(nèi)部的通孔。
■高輸出110kV，200μA，可以傳輸3mm厚的銅板。

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產(chǎn)品介紹

日本i-bit射線立體系統(tǒng)X射線觀察裝置FX-400tRX

3D-X射線立體系統(tǒng)X射線觀察裝置FX-400tRX

盡管是封閉的X射線設(shè)備，但仍可實(shí)現(xiàn)2μm的高分辨率

概述

■可以獲得2μm的高分辨率和500倍的幾何放大率的清晰X射線圖像。
■通常，使用昂貴的開放式X射線管的樣品可以獲得相同的圖像質(zhì)量。
■我們還可以檢查IC引線鍵合連接和銅線。
　您還可以觀察印刷電路板內(nèi)部的通孔。
■高輸出110kV，200μA，可以傳輸3mm厚的銅板。

特征

①110 kV，200μA高輸出X射線源可透射3mm的銅板等②
高分辨率2μm圖像分辨率可獲取細(xì)微部分的圖像③用于
高倍率攝影的幾何放大率500x④X
射線立體方法1因此，安裝板的正面和背面分開（約4秒）
⑤X射線立體CT方法1獲取300層安裝板的水平橫截面（約50秒）
⑥使用CT功能自動(dòng)檢查（OK / NG判斷）））
⑦支持使用2D代碼的可追溯性

高分辨率2μm圖像和印刷電路板上通孔的裂紋圖像

小動(dòng)物実験用
デジタルX線裝置
IX-80

小動(dòng)物の微小部分の拡大観察に最適なＸ線観察裝置、微小焦點(diǎn)５μｍ

小動(dòng)物実験用デジタルX線裝置　IX-80

研究用実験動(dòng)物のＸ線観察裝置です。
（マイクロフォーカスＸ線使用）
微小焦點(diǎn)５μｍでマウスやラットなど、小動(dòng)物の微小部分の拡大観察に最適なＸ線観察裝置です。
※焦點(diǎn)徑は15μｍ、30μｍの設(shè)定も可能（オプション）

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日本i-bit射線立體系統(tǒng)X射線觀察裝置

3D-X射線立體系統(tǒng)X射線觀察裝置FX-400tRX

盡管是封閉的X射線設(shè)備，但仍可實(shí)現(xiàn)2μm的高分辨率

高分辨率2μm圖像和印刷電路板上通孔的裂紋圖像

小動(dòng)物実験用デジタルX線裝置 IX-80

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