具有光學(xué)性能，高速測量和功能，從研發(fā)到制造均可廣泛使用。它配備了新功能，例如數(shù)據(jù)記錄和擴展標(biāo)記功能。

• 波長范圍：600至1700 nm
• 波長精度：±0.01 nm
• 波長分辨率：0.02 nm
• 動態(tài)范圍：典型值78dB。
• 電平范圍：+20至-90dBm
• 在0.2秒內(nèi)高速測量100 nm波長寬度
• 適用于單模到多模光纖

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進一步提高光學(xué)性能

兩種型號，標(biāo)準型和高性能

除了具有高測量性能的標(biāo)準型號外，我們還有一系列高性能型號，可實現(xiàn)更高的波長精度和動態(tài)范圍。

的波長分辨率0.02nm

配備了緊湊而高性能的單色儀。由于其高分辨率，甚至可以分離并精確測量接近的信號。

波長精度高±0.01 nm

• 高性能型號：±0.01 nm（C波段）
• 標(biāo)準型號：±0.02 nm（C + L波段）

寬動態(tài)范圍，典型值為78dB。

降低了峰值波長附近的雜散光，以實現(xiàn)高動態(tài)范圍。

*波長分辨率為0.05 nm時

動態(tài)范圍示例
峰值波長±1.0 nm，分辨率設(shè)置為0.05 nm，高動態(tài)模式：ON，高性能型號

實現(xiàn)更銳利的濾鏡邊緣

在高性能模型中，±0.2 nm峰值波長內(nèi)的光譜形狀變得更加清晰，并且動態(tài)范圍得到了改善。

*波長分辨率0.02 nm

近峰頻譜示例

雜散光抑制比80dB典型值。

不使用高動態(tài)模式時新定義的雜散光抑制能力。高雜散光抑制比有助于縮短測量時間。

*波長分辨率為0.1 nm時

雜散光抑制比示例
高動態(tài)模式：OFF，分辨率設(shè)置為0.1 nm，高性能型號

寬電平范圍+ 20dBm?-90dBm

它可以在短時間內(nèi)準確測量從高功率光信號（例如用于光放大器和拉曼放大器的泵浦激光器）到微弱的光信號。可以根據(jù)測量應(yīng)用和測量速度等條件從7個級別中適當(dāng)設(shè)置測量靈敏度。

從1000nm到1300nm的電平靈敏度提高到-85dBm

平滑功能

具有減少疊加在測量頻譜上的噪聲分量的平滑功能。

• 高動態(tài)模式
  減少了單色器中強光信號引起的雜散光的影響，從而實現(xiàn)了更高的動態(tài)范圍。

自由空間結(jié)構(gòu)光輸入

• 支持單模和多模光纖。即使使用多模光纖，插入損耗也很小，并且可以抑制由于信號電平降低而導(dǎo)致的測量速度降低。
• 光學(xué)連接器連接出色的可重復(fù)性和穩(wěn)定的測量。不必擔(dān)心由于與內(nèi)部光纖的接觸而損壞光纖連接表面。

APC電平校正功能

帶有校正使用角型光連接器時的插入損耗的功能。

出色的測量通量

在0.2秒內(nèi)高速測量100 nm波長寬度

高速頻譜測量是通過良好的單色儀技術(shù)，高速電路和原始降噪技術(shù)實現(xiàn)的。它對于測量陡峭的頻譜（例如DWDM信號和微弱的信號）非常有效。

配備高速遠程接口（以太網(wǎng)，GP-IB）

高分辨率集體測量寬頻帶

數(shù)據(jù)點的數(shù)量為50,001，可以在保持高分辨率的同時立即測量更寬的波長范圍，并且測量變得更加準確和高效。

出色的可操作性

跡線縮放（波形放大/縮小功能）

• 通過單擊并拖動鼠標(biāo)，任意設(shè)置測量波形的波長軸的顯示條件（顯示波長范圍，中心波長等）。
• 立即擴大您想要查看的范圍，并使用鼠標(biāo)自由移動顯示位置

鼠標(biāo)和鍵盤操作

• 繼承直觀的面板按鍵布局和菜單結(jié)構(gòu)
• 使用USB鼠標(biāo)更容易操作
• 可以使用USB鍵盤輸入標(biāo)簽和文件名

簡便的測量數(shù)據(jù)管理

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